标准摘要
【适用范围】 本文件适用于以FIDES guide为基础框架，结合GB/T系列的质量管理标准与环境可靠性试验标准，提供了IGBT分立器件、IGBT模块的工程化失效率计算方法，主要为IGBT使用方基于产品的预期使用环境预测失效率提供方法指导。 【主要技术内容】 本文件规定了绝缘栅双极型晶体管（IGBT）使用失效率预测的缩略语、IGBT分立器件、IGBT模块和IPM。
英文名称Insulated gate bipolar transistor （IGBT） failure rate prediction guide