标准摘要
国家标准《半导体器件 微机电器件 MEMS结构黏结强度的弯曲和剪切试验方法》 由TC336(全国微机电技术标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。
英文名称Semiconductor devices—Micro-electromechanical devices—Bend-and shear-type test methods of measuring adhesive strength for MEMS structures