GB/T 41853-2022 现行

半导体器件 微机电器件 晶圆间键合强度测量

标准摘要

国家标准《半导体器件 微机电器件 晶圆间键合强度测量》 由TC336(全国微机电技术标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。
英文名称Semiconductor devices—Micro-electromechanical devices—Wafer to wafer bonding strength measurement

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