GB/T 4937.2-2006 现行

半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压

标准摘要

国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压》 由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。
英文名称Semiconductor devices―Mechanical and climatic test methods―Part 2: Low air pressure

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