GB/T 4937.3-2012 现行

半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分:外部目检

标准摘要

国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分:外部目检》 由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。
英文名称Semiconductor devices - Mechanical and climatic tests methods - Part 3: External visual examination

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