标准摘要
国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分：塑封器件的易燃性（外部引起的）》 由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。
英文名称Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 32:Flammability of platic-encapsulated devices（externally induced）