标准摘要 国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第33部分:加速耐湿 无偏置高压蒸煮》 由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 展开完整摘要 英文名称Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 33: Accelerated moisture resistance—Unbiased autoclave