GB/T 4937.33-2025 现行

半导体器件 机械和气候试验方法 第33部分:加速耐湿 无偏置高压蒸煮

标准摘要

国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第33部分:加速耐湿 无偏置高压蒸煮》 由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。
英文名称Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 33: Accelerated moisture resistance—Unbiased autoclave

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