标准摘要 国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第37部分：采用加速度计的板级跌落试验方法》 由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。 展开完整摘要 英文名称Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 37: Board level drop test method using an accelerometer