GB/Z 107-2025 现行

半导体器件 基于扫描的半导体器件退化水平评估

标准摘要

国家标准《半导体器件 基于扫描的半导体器件退化水平评估》 由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。
英文名称Semiconductor devices—Scan based ageing level estimation for semiconductor devices

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