标准摘要 国家标准《半导体器件 基于扫描的半导体器件退化水平评估》 由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 展开完整摘要 英文名称Semiconductor devices—Scan based ageing level estimation for semiconductor devices